德国Bruker公司D8 Advance X射线衍射仪（转靶）

1. 主要功能及应用范围：

可对固体多晶样品进行结构分析，如物相定性和定量分析，衍射谱图指标化及点阵参数测定，晶粒尺寸及点阵畸变测定，结晶度测定。可在不同的高、低温下进行衍射扫描，从而分析其相变规律。广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。

2.  购置年份及价格：

2006年， 118.2万元

3. 主要部件：

高压发生器、X射线发生器、高精度测角仪、闪烁晶体探测器、阵列探测器、高低温附件、计算机控制系统、数据处理软件及循环水装置。

4. 主要技术指标：

    温度范围：室温～1200℃（高温），-196℃（液氮温度）～室温（低温）。

    靶材：铜靶（转靶）

    测角仪角度重现性：0.0001°；

    闪烁计数器线性范围：2×10⁶cps;

    最大功率：18KW （50KV×360mA）；

    扫描方式：连续扫描或步进扫描

    扫描角度范围2θ：5-120°

5. 样品要求
      来样标明名称、来源、主要成分、待测样品包含元素；
      固体粉末：大于1g，建议事先处理粒度达微米级；

块状或薄膜样品：要求样品表面平整，且直径不超过3cm，厚度不超过1cm。